深圳市谷易电子有限公司
主营产品:芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组
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LGA芯片老化座价格 批发 厂家
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产品介绍
深圳谷易电子生产的LGA124pin芯片探针老化座socket 的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 LGA124pin芯片老化测试座规格参数: 芯片封装类型:LGA 芯片引脚:124pin 芯片引脚间距:0.5mm 芯片尺寸:8.2*10.5mm 产品简介: 适用于芯片HAST/HTOL老化测试 LGA124pin芯片老化测试条件要求: 芯片老化测试温度:125°,持续老化时长:1000小时 芯片测试电流:1A 芯片老化测试湿度:85% 测试座结构:旋钮翻盖式 测试座材料:合金